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AQ6375日本橫河長波長光譜分析儀
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AQ6375日本橫河長波長光譜分析儀丨蘇州詠繹
AQ6375特點
在研究、開發(fā)和制造波長范圍從通信波段到2.4um的光學設備時,AQ6375是*的光譜分析儀。同時具有其它測試系統(tǒng)所不具備的高性能和操作簡單的特點。
世界*的性能
應用
除了通信波長,AQ6375還適用于環(huán)境傳感、醫(yī)療和工業(yè)材料等長波長領域。
AQ6375可以測量低至-70dBm的光功率,因此它能夠測量被測設備的低功率源或低功率輸出。根據測試應用和測量速度要求可從七種設置中選擇測量靈敏度。
AQ6375使用雙通單色鏡結構獲得高波長分辨率(0.05nm)和大動態(tài)范圍(55dB)。這樣就可以單獨測量密集信號和噪聲。
更高效率
高速掃描
與使用單色鏡的傳統(tǒng)測量系統(tǒng)相比,采用專有掃描技術的AQ6375能夠提供更快的掃描速度。在100nm跨度內其zui大掃描時間僅為0.5秒。
快速命令處理和數據傳輸
AQ6375采用了高速處理芯片,能夠快速執(zhí)行命令。另外,以太網比GP-IB提供的數據傳輸速度快100倍。
測量示例
1800nm DFB-LD![]() 分辨率:50pm, 跨度:10nm 靈敏度:HiGH1/CHOP | 2010nm DFB-LD ![]() 分辨率:50pm, 跨度:20nm 靈敏度:HiGH1/CHOP |
支持多模光纖
應用光纖:SMF和MMF
AQ6375使用自由空間輸入結構,不在單色鏡內放置光纖,可以處理單模和多模光纖。自由空間輸入也有利于測量的重復性。
易于校準
AQ6375自帶的內置校準儀可用于波長校準和單色鏡光軸對準調節(jié),以確保測量的精度。校準和對準調節(jié)都是自動執(zhí)行,并在幾分鐘之內就可以完成。
用的乙炔氣體吸收光譜進行校準。
光軸對準調節(jié)
校正單色鏡中由于沖擊和振動引起的機械移動。
提示:也可以使用外部光源校準波長。
遠程操作
AQ6375提供了GP-IB、RS-232和以太網(10/100Base-T)接口,可以和外部PC連接進行遠程訪問和構建自動測試系統(tǒng)。宏程序對于編寫簡單的自動測試程序是很有用的內置功能。
兼容SCPI
AQ6375的標準遠程命令與SCPI兼容,它是一個基于標準代碼的ASCII文本文件,其格式符合IEEE-488.2。
AQ6317仿真模式 AQ6375支持Yokogawa機型AQ6317系列的遠程命令代碼,便于用戶從當前自動測試環(huán)境中進行升級。(提示:如果規(guī)格和功能改變,一些命令可能不兼容。) |
AQ6375參數規(guī)格
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